抢抓芯片测试新赛道！第二届大宁创“芯”论坛举办
继第一届“国产汽车芯片质量的挑战和突破之路”主题大宁创“芯”论坛后，日前，由大宁集团主办，芯信安电子科技有限公司、泰瑞达（上海）有限公司联合承办的“AI大数字”第二届大宁创“芯”论坛在大宁功能区举办。当天，来自复旦微电、燧原、平头哥、地平线等十余家知名科创企业的企业代表参加论坛，聚焦探讨AI大数字芯片的测试解决方案，集众智、汇众力协同推动AI芯片产业发展。
论坛开始前，大宁集团研究室（投资部）相关负责人首先向参会各方介绍了大宁功能区科创产业基本情况及发展优势。
值得一提的是，本次论坛创新设置了分组讨论环节，以“Streaming Scan Network Discovery”“ATE行业趋势”“Part Average Testing”为主题，与会嘉宾和参会人员分组进行讨论。
活动现场，各小组针对主题进行了开放式分享与讨论，并深入探讨了相关热门话题。大咖零距离解答、全员头脑风暴式交流激荡出了更多智慧火花，为AI大数字芯片发展贡献了众多极具价值的思考和建议。
记者从主办方获悉
本届“AI大数字”主题大宁创“芯”论坛的举办，为参会企业就“AI大数字芯片的测试解决方案”这一问题的高质量沟通交流搭建了良好平台，从而助推企业在AI大数字领域突破技术壁垒，取得研发进展。
未来，大宁集团将进一步联动多方，汇集更多优质资源，通过举办系列大宁创“芯”论坛活动，为科创企业搭建更广阔的交流平台，为吸引更多科创企业落户大宁功能区营造浓厚的产业氛围，助力把大宁功能区建成国际静安生态商务区。
相关文档
看过此文章的人还看了
猜您喜欢
纠错
1.错误类：*
2.出错页面的地址(浏览器地址栏里面的地址)：*
3.内容标题：*
4.为了方便我们更准确及时的处理错误,请尽可能详细填写你的操作经过：*
-
您的姓名:*
使用说明